A PROPOS

JSE 2020, 21-22 janvier à Paris

Cette troisième édition des JSE se sont tenues à Paris (Campus Jussieu) et a de nouveau rassemblé la communauté nationale des spécialistes et des utilisateurs des spectroscopies d’électrons prises au sens large : photoémission, émission Auger et microscopies associées ; techniques de LEEM, REELS et HREELS ; rayonnement synchrotron et laboratoire…

Les Journées se sont tenues en partenariat étroit avec les Journées Surfaces et Interfaces (JSI) qui se sont déroulées à la suite, dans le même lieu (facilités d’inscriptions sur les deux évènements JSE et JSI).

Elles se sont articulées autour d’exposés invités, contributeurs, et posters qui ont donné un panorama des approches innovantes et des résultats marquants actuels.

Merci aux 85 participants et les 8 sociétés exposantes : KRATOS ANALYTICAL, NEYCO, PHYSICAL ELECTRONICS, SCIENTA OMICRON, SCIENTEC, SPECS, THERMO SCIENTIFIC, VAT ainsi que notre partenaire : Société Française de Physique/DPMC et à l’équipe locale d’organisation !

CONFÉRENCIERS INVITÉS / PRIX / PROGRAMME ET THÈMES / SPONSORS-EXPOSANTS / PROGRAMME SOCIAL/ PHOTOS

Contributions Keynote JSE 2020 à Paris

	Simulations de spectres XPS pour une meilleure connaissance des surfaces désordonnées Thomas Duguet CIRIMAT, Toulouse Résumé		La spectroscopie de photoélectrons par rayons X comme outil de caractérisation de choix des bio-interfaces Vincent Humblot Femto-ST, Besançon Résumé
	FOCUS THEMATIQUE XPS operando pour élucider des réactions électrochimiques complexes dans les batteries tout solide Mario El-Kazzi Paul Scherrer Institute, Villingen, Suisse Résumé		FOCUS THEMATIQUE XPS environnementale : état de l’art et perspectives François Rochet LCPMR, Sorbonne-Univesité, Paris Résumé

	Quantification par XPS et instrumentation Vincent Fernandez Institut Jean Rouxel, Nantes Résumé

Prix

PRIX DU MEILLEUR ORAL
(Doctorant et post-doctorant)

Spectroscopie de coïncidence sur des biomolécules solvatées
Lucie HUART

Présentation

PRIX DU MEILLEUR POSTER
(Doctorant)

Characterization of NiCr sub-nanometric layer / ZnO thin layer interface and its evolution with annealing
Justine VORONKOFF

Présentation

Programme scientifique et thèmes abordés

Programme des journées en téléchargement

Mardi 21 janvier : 9h à 18h suivi du diner de gala

Mercredi 22 janvier : 8h30 à 12h30

	Techniques de spectroscopie électronique et instrumentation associée
	Spectroscopie de Photoélectrons (XPS)
	Spectroscopie d’électrons Auger (AES) et imagerie par miro-/nanosonde électronique
	Photoémission par rayonnement synchrotron (PES, HAXPES, NAP-XPS, …)
	Photoémission résolue en angle (ARPES), en spin, et photoémission inverse
	Spectroscopie de perte d’énergie haute-résolution (HREELS)
	Microscopies sensibles à la surface : XPS par balayage, XPEEM, LEEM-PEEM, EPES
	Nouveaux développements

	Matériaux et systèmes aux frontières
	Matériaux bi-dimensionnels
	Hétérostuctures multiferroïques
	Epitaxie avancée
	Bio-surfaces
	...

	Applications
	Matériaux fonctionnels
	Nouvelles technologies de l’énergie
	Catalyse et fonctionnalisation de surface
	Micro- et nanoélectronique
	...