>A PROPOS

  JSE 2020, 21-22 janvier à Paris

Cette troisième édition des JSE se sont tenues à Paris (Campus Jussieu) et a de nouveau rassemblé la communauté nationale des spécialistes et des utilisateurs des spectroscopies d’électrons prises au sens large : photoémission, émission Auger et microscopies associées ; techniques de LEEM, REELS et HREELS ; rayonnement synchrotron et laboratoire…

Les Journées se sont tenues en partenariat étroit avec les Journées Surfaces et Interfaces (JSI) qui se sont déroulées à la suite, dans le même lieu (facilités d’inscriptions sur les deux évènements JSE et JSI).

Elles se sont articulées autour d’exposés invités, contributeurs, et posters qui ont donné un panorama des approches innovantes et des résultats marquants actuels.

Merci aux 85 participants et les 8 sociétés exposantes : KRATOS ANALYTICAL, NEYCO,  PHYSICAL ELECTRONICS, SCIENTA OMICRON, SCIENTEC, SPECS, THERMO  SCIENTIFIC, VAT ainsi que notre partenaire : Société Française de Physique/DPMC et à l’équipe locale d’organisation !


Contributions Keynote JSE 2020 à Paris


Simulations de spectres XPS pour une meilleure connaissance des surfaces désordonnées
Thomas Duguet
CIRIMAT, Toulouse
Résumé
 

La spectroscopie de photoélectrons par rayons X comme outil de caractérisation de choix des bio-interfaces
Vincent Humblot
Femto-ST, Besançon
Résumé
 
FOCUS THEMATIQUE
XPS operando pour élucider des réactions électrochimiques complexes dans les batteries tout solide
Mario El-Kazzi
Paul Scherrer Institute, Villingen, Suisse
Résumé

FOCUS THEMATIQUE
XPS environnementale : état de l’art et perspectives
François Rochet
LCPMR, Sorbonne-Univesité, Paris
Résumé

       
Quantification par XPS et instrumentation
Vincent Fernandez
Institut Jean Rouxel, Nantes
Résumé
   

 


Prix

PRIX DU MEILLEUR ORAL
(Doctorant et post-doctorant)


Spectroscopie de coïncidence sur des biomolécules solvatées
Lucie HUART

Présentation

 

PRIX DU MEILLEUR POSTER
(Doctorant)

Characterization of NiCr sub-nanometric layer / ZnO thin layer interface and its evolution with annealing 
Justine VORONKOFF


Présentation


 Programme scientifique et thèmes abordés

 Programme des journées en téléchargement

 

Mardi 21 janvier : 9h à 18h suivi du diner de gala

Mercredi 22 janvier : 8h30 à 12h30

 

  Techniques de spectroscopie électronique et instrumentation associée
    Spectroscopie de Photoélectrons (XPS)
    Spectroscopie d’électrons Auger (AES) et imagerie par miro-/nanosonde électronique
    Photoémission par rayonnement synchrotron (PES, HAXPES, NAP-XPS, …)
    Photoémission résolue en angle (ARPES), en spin, et photoémission inverse
    Spectroscopie de perte d’énergie haute-résolution (HREELS)
    Microscopies sensibles à la surface : XPS par balayage, XPEEM, LEEM-PEEM, EPES
    Nouveaux développements  
   
  Matériaux et systèmes aux frontières
    Matériaux bi-dimensionnels
    Hétérostuctures multiferroïques
    Epitaxie avancée  
    Bio-surfaces  
    ...  
   
  Applications
    Matériaux fonctionnels
    Nouvelles technologies de l’énergie
    Catalyse et fonctionnalisation de surface  
    Micro- et nanoélectronique  
    ...  


Sponsors - Exposants

GOLD SPONSOR
 

 

 

Exposants édition 2020 à Paris

 

  Programme social

Accès au dîner de la conférence inclus dans les frais de participation des JSE.
Mardi 21 janvier 2020 à 20 heures.

Le lieu

LE PETIT PRINCE DE PARIS
12 Rue de Lanneau
75005 PARIS


  Photos



 


PARTENAIRES


       

 

 

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