Les Journées des Spectroscopies d’Electrons (JSE) SFV-SFP visent à rassembler annuellement de façon dynamique, dans un format court, la communauté nationale des spécialistes et des utilisateurs des spectroscopies d’électrons prises au sens large : photoémission, émission Auger et microscopies associées ; techniques de LEEM, REELS et HREELS ; rayonnement synchrotron…
Cette première édition des JSE fait suite à une préfiguration à petite échelle qui s’est tenue à Paris en mai dernier, rassemblant environ 50 participants.
Les Journées se sont tenues en partenariat étroit avec les Journées Surfaces et Interfaces (JSI) qui se sont déroulées à la suite, dans le même lieu (facilités d’inscriptions sur les deux évènements JSE et JSI).
Elles se sont articulées autour d’exposés invités, contributeurs, et posters qui ont donné un panorama des approches innovantes et des résultats marquants actuels.
Un Focus Thématique sur l’imagerie a donné un panorama complet sur les méthodes actuelles d’imagerie et microscopie par émission d’électrons (principes de base, apports et champs d’application), grâce à l’intervention de spécialistes du domaine. Plus de détails...
Merci aux 60 participants, aux orateurs du Focus Thématique « Imagerie », aux 7 sociétés exposantes et à l’équipe locale d’organisation !