La deuxième édition des Journées de Spectroscopies Electronique aura lieu à Nancy, les 22 et 23 janvier 2019.
Organisée par la SFV, soutenue par la Société Française de Physique, et en partenariat avec les Journées Surfaces et Interfaces (JSI).

The second edition of the French Electron Spectroscopy Workshop will be held in Nancy on January 22nd-23rd, 2019.
Organized by the French Vacuum Society with the agreeement of the French Society for Physics and in collaboration, with the Surfaces and Interfaces Workshop.

Les Journées des Spectroscopies d’Electrons (JSE) SFV-SFP visent à rassembler annuellement de façon dynamique, dans un format court, la communauté nationale des spécialistes et des utilisateurs des spectroscopies d’électrons prises au sens large : photoémission, émission Auger et microscopies associées ; techniques de LEEM, REELS et HREELS ; rayonnement synchrotron…

Cette seconde édition des JSE fait suite à l'édition de janvier 2018 qui a rassemblée 65 participants et 7 sociétés exposantes.

Comme pour l'édition JSE 2018, les JSE 2019 se dérouleront juste avant, et en partenariat étroit avec les Journées Surfaces et Interfaces (JSI).
Les Journées s’articuleront autour d’exposés invités, contributeurs, et posters qui donneront un panorama des approches innovantes et des résultats marquants actuels.
Un Focus Thématique dédié aux approches théoriques et modélisations des spectres de photoémission fera le point sur ces méthodes grâce à l'intervention de spécialistes du domaine, en insistant sur les liens entre calculs et expériences.

Une large place sera accordée aux interactions entre participants et avec les exposants, notamment lors du buffet de midi organisé pendant une longue session poster.