JSE 2018

La première édition des Journées de Spectroscopies Electroniques se tiendra à Strasbourg, les 23 et 24 janvier 2018.
Organisée par la SFV, elle sera également soutenue par la Société Française de Physique.

Les Journées des Spectroscopies d’Electrons (JSE) SFV-SFP visent à rassembler annuellement de façon dynamique, dans un format court, la communauté nationale des spécialistes et des utilisateurs des spectroscopies d’électrons prises au sens large : photoémission, émission Auger et microscopies associées ; techniques de LEEM, REELS et HREELS ; rayonnement synchrotron…

Cette première édition des JSE fait suite à une préfiguration à petite échelle qui s’est tenue à Paris en mai dernier, rassemblant environ 50 participants.

Les Journées se tiendront en partenariat étroit avec les Journées Surfaces et Interfaces (JSI) qui se déroulent à la suite, dans le même lieu (facilités d’inscriptions sur les deux évènements JSE et JSI). Elles s’articuleront autour d’exposés invités, contributeurs, et posters qui donneront un panorama des approches innovantes et des résultats marquants actuels. Un Focus Thématique sur l’imagerie donnera un panorama complet sur les méthodes actuelles d’imagerie et microscopie par émission d’électrons (principes de base, apports et champs d’application), grâce à l’intervention de spécialistes du domaine.

Dans cette dernière partie des Journées, une place importante sera accordée aux échanges de manière à répondre aux questions des futurs utilisateurs.

Dates importantes
 

30 oct 2017 Appel à communications
   
9 novembre 2017 Ouverture des inscriptions
   
18 déc. 2017 Date limite de réception pour un Oral
   
21 déc. 2017 Mise en ligne du Programme
   
12 janv. 2018 Date limite pour la soumission Poster
   

 


PARTENAIRES


               

 

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