A PROPOS

JCSE 2017, 17-18 mai à Paris

Ces journées constituaient une première rencontre de la communauté nationale portée par le Comité Spectroscopies d'électrons (CSE). Des Journées de Spectroscopies Electroniques (JSE) seront ensuite organisées chaque année en marge des Journées Surfaces et Interfaces (JSI).

Les Journées Scientifique du CSE se sont déroulées sur 2 jours, du mercredi 17 mai 12h (accueil par un buffet) au jeudi 18 mai 15h, entrecoupés d’un dîner de convivialité.

Cinq contributions « keynote », choisies de manière à refléter la transversalité thématique (technique(s) utilisée(s), systèmes étudiés, nouvelles infrastructures…) et géographique, ont fait le point sur l’avancée d’un domaine. Des présentations orales contributives sont venues compléter ces exposés. Deux sessions posters lors des pauses ont permis des échanges plus rapprochés avec les intervenants.

Les constructeurs soutenants financièrement l’évènement disposaient un stand pour diffuser leurs dernières innovations techniques.

CONFÉRENCIERS INVITÉS / PROGRAMME ET THÈMES / SPONSORS-EXPOSANTS / PROGRAMME SOCIAL

Conférenciers invités

	*Contribution de la spectroscopie de pertes d’énergie à l’étude des interactions adsorbats - métal: preuves directes et indirectes* Eric SALOMON PIIM, Marseille		*Analyse par spectroscopies de photoélectrons et électrons Auger de batteries Li- at Na-ion* Hervé MARTINEZ IPREM, Pau
	*Propriétés électroniques et structurales de films ultra-minces d’oxydes épitaxiés : analyse par spectroscopies électroniques et diffraction de photoélectrons* Philipe SCHIEFFER IPR, Rennes		*La spectroscopie de Photoémission X in operando sur la ligne de lumière TEMPO* Jean-Jacques GALLET UPMC-LCPMR, Paris & SOLEIL, Saint-Aubin
	*Une approche multi-technique pour les matériaux de demain* Yannick FAGOT-REVURAT & Julian LEDIEU IJL, Nancy

Programme scientifique et thèmes abordés

Programme des journées en téléchargement

Merdredi 17 mai : 12h à 18h suivi du diner de gala

Jeudi 18 mai : 9h à15h

	Techniques de spectroscopie électronique et instrumentation associée
	Spectroscopie de Photoélectrons (XPS)
	Spectroscopie d’électrons Auger (AES) et imagerie par miro-/nanosonde électronique
	Photoémission par rayonnement synchrotron (PES, HAXPES, NAP-XPS, …)
	Photoémission résolue en angle (ARPES), en spin, et photoémission inverse
	Spectroscopie de perte d’énergie haute-résolution (HREELS)
	Microscopies sensibles à la surface : XPS par balayage, XPEEM, LEEM-PEEM, EPES
	Nouveaux développements

	Matériaux et systèmes aux frontières
	Matériaux bi-dimensionnels
	Hétérostuctures multiferroïques
	Epitaxie avancée
	Bio-surfaces
	...

	Applications
	Matériaux fonctionnels
	Nouvelles technologies de l’énergie
	Catalyse et fonctionnalisation de surface
	Micro- et nanoélectronique
	...