>A PROPOS

  JSE 2019, 22-23 janvier à Nancy

Cette seconde édition des JSE qui s'est tenue à l'Institut Jean Lamour de Nancy a de nouveau rassemblée la communauté nationale des spécialistes et des utilisateurs des spectroscopies d’électrons prises au sens large : photoémission, émission Auger et microscopies associées ; techniques de LEEM, REELS et HREELS ; rayonnement synchrotron…

Les Journées se sont tenues en partenariat étroit avec les Journées Surfaces et Interfaces (JSI) qui se sont déroulées à la suite, dans le même lieu (facilités d’inscriptions sur les deux évènements JSE et JSI).

Elles se sont articulées autour d’exposés invités, contributeurs, et posters qui ont donné un panorama des approches innovantes et des résultats marquants actuels.

Merci aux 64 participants et aux 7 sociétés exposantes (Cryoscan, Kratos Analytical, Physical Electronics, Scienta Omicron, Scientec, Specs, Thermo Scientific) et à l’équipe locale d’organisation !


Contributions Keynote


Photoémission angulaire et photoémission résolue en spin sur CASSIOPEE
Patrick Le fevre
SOLEIL, Saint-Aubin
Résumé
 

Etudes d’électrocatalyse en mode operando : apports de la NAP-XPS
Elena Savinova
ICPEES, Strasbourg

Résumé
 
       
XPS/AES/ToF-SIMS, un cluster pertinent de techniques d’analyse au service de l’étude des batteries Li-ion.
Eric De Vito
CEA-LITEN, Grenoble
Résumé


Photoémission avancée avec sources laser
Claude Monney
Université de Fribourg

Résumé

 


 Programme scientifique et thèmes abordés

 Programme des journées en téléchargement

 

Mardi 22 janvier : 10h à 18h suivi du diner de gala

Mercredi 23 janvier : 8h30 à 12h30

 

  Techniques de spectroscopie électronique et instrumentation associée
    Spectroscopie de Photoélectrons (XPS)
    Spectroscopie d’électrons Auger (AES) et imagerie par miro-/nanosonde électronique
    Photoémission par rayonnement synchrotron (PES, HAXPES, NAP-XPS, …)
    Photoémission résolue en angle (ARPES), en spin, et photoémission inverse
    Spectroscopie de perte d’énergie haute-résolution (HREELS)
    Microscopies sensibles à la surface : XPS par balayage, XPEEM, LEEM-PEEM, EPES
    Nouveaux développements  
   
  Matériaux et systèmes aux frontières
    Matériaux bi-dimensionnels
    Hétérostuctures multiferroïques
    Epitaxie avancée  
    Bio-surfaces  
    ...  
   
  Applications
    Matériaux fonctionnels
    Nouvelles technologies de l’énergie
    Catalyse et fonctionnalisation de surface  
    Micro- et nanoélectronique  
    ...  

Focus thématique

Un Focus Thématique dédié aux approches théoriques et modélisations des spectres de photoémission a fait le point sur ces méthodes grâce à l'intervention de spécialistes du domaine, en insistant sur les liens entre calculs et expériences. Dans cette dernière partie des Journées, une place importante a été accordée aux échanges de manière à répondre aux questions des futurs utilisateurs.
 


K-2V: Un nouvel outil spectroscopique pour l'analyse chimique.

Stéphane Carniato
LCPMR, Sorbonne Univ. Paris
Résumé
Approches couplées spectroscopie XPS / chimie quantique: applications à l’étude de la réactivité chimique aux interfaces.

Germain Vallverdu
IPREM, Univ. Pau
Résumé
 
Importance du fond continu inélastique dans l’analyse de spectres XPS

Nicolas Pauly
Université libre de Bruxelles, Belgique
Résumé
   

...


Sponsors - Exposants

 

  Programme social

 

Dîner de gala le mardi 22 janvier 2019  de 19h45 à 22h30

Accès au dîner de Gala inclus dans les frais de participation des JSE.


LE GRAND CAFÉ FOY
1 Place Stanislas
54000 Nancy

 Site internet


  Photos
 

 

 


PARTENAIRES


             

 

 

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